第四届中国二次离子质谱学会议暨2008北京二次离子质谱学国际研讨会

校长乔建永教授在开幕式上致欢迎词

10月27日，由我校承办的第四届中国二次离子质谱学会议暨2008北京二次离子质谱学国际研讨会（SIMS IV08/ISSIMS 08 BEIJING）在我校国际交流中心开幕，来自美国、英国、德国、日本等多个国家和地区的67名二次离子质谱学专家和学者参加了会议。此次会议是全球华人关于二次离子质谱的唯一学术讲坛和学术论坛。前三届分别在清华大学和台湾新竹清华大学举办。

校长乔建永教授在开幕式上致欢迎词，热烈欢迎海内外学者参加此次会议，并向与会嘉宾、代表介绍了我校的发展特色和现状、科学研究以及国际合作交流等方面的情况。乔建永感谢大会组委会选择矿大作为承办单位，并表示学校要认真做好会议各项工作，保证大会顺利举行。

国际二次离子质谱学会中方委员，清华大学查良镇教授在开幕式上讲话，介绍了会议的基本情况，并对我校出色的组织工作表示感谢。

参加开幕式的还有中国工程院院士、清华大学金国藩教授，中国工程院院士、我校彭苏萍教授，全国政协委员、北京离子探针中心主任刘敦一研究员，我校副校长姜耀东教授，上届国际SIMS大会主席、日本成蹊大学 Masahiro Kudo教授，下届国际SIMS大会主席、美国纽约州立大学巴夫罗校区Joseph Cardella教授等。

开幕式由中国质谱学会常务理事，本届会议组织委员会主席兼秘书长，我校梁汉东教授主持。本次会议还收到国际SIMS会议创始人A. Benninghoven教授和国际SIMS委员会现任主席N. Winograd教授的贺词和贺信。

开幕式结束后，按照会议安排进行了相关的学术报告。台湾新竹清华大学教授凌永健，英国国家物理实验室博士Gilmore,先后做了题为《From Si-Devices to Bio-and Nano-Science:the Challenges and Opportunities for Secondary Ion Mass Spectrometry》、《Frontiers in the nanoscale analysis of molecular surfaces and interfaces》的学术报告。

在会议正式开幕前一天，大会还举办了特别培训课程，主要面向我校及附近高校对质谱分析技术感兴趣的老师与学生，方便他们认识、了解二次离子质谱技术。共有150余人参加，其中大部分是来自北京大学、清华大学、北京科技大学、北京航空航天大学、中国石油勘探研究院、中国地质大学、中科院化学所、中科院地质与地球物理研究所、中科院物理所、台湾新竹清华大学的硕士、博士研究生。还有部分来自上海、天津、云南、广西等省大学的老师和学生。

会议的学术交流时间为两天，共收到会议论文43篇，为历届会议最多一次。会议期间，各专家学者将就二次离子质谱技术在化学、生物、环境科学、医学、安全工程、核工业等专业的应用进行广泛的交流和研讨。部分专家还介绍了二次离子质谱技术的最新应用成果。

除学术交流与讨论外，10月29日与会代表还参观了北京离子探针中心、中国科学院地质与地球物理研究所，以及我校煤炭资源与安全开采国家重点实验室。

会议还得到北京离子探针中心、清华大学、新竹清华大学、中国科学院地质与地球物理研究所、中国原子能科学研究院、我校煤炭资源与安全开采国家重点实验室、北京大学医学部、上海复旦大学、天津电子材料研究所、中国质谱学会及《质谱学报》、香港科技大学、新加坡国立大学等单位支持和赞助。会议也是我校庆祝恢复研究生教育30周年“研究生教育学术论坛”的系列活动之一。